Atmos. Meas. Tech.

Hase, F., Blumenstock, T., Kivi, R., Heikkinen, P., Sha, M. K., Raffalski, U., Landgraf, J., Lorente, A., Borsdorff, T., Chen, H., Dietrich, F., and Chen, J.

Wang, P., Langerock, B., Vigouroux, C., Hermans, C., Kumps, N., Wang, T., Yang, Y., Ji, D., Ran, L., Zhang, J., Xuan, Y., Chen, H., Posny, F., Duflot, V., Metzger, J.-M., and De Mazière, M.

H. G. J. Smit, D. Tarasick, B. Johnson, S. J. Oltmans, H. Selkirk, A. M. Thompson, R. M. Stauffer, J. C. Witte, J. Davies, R. van Malderen, G. A. Morris, T. Nakano, R. Stübi

H. Giehl, F. Neidl, M. Perfahl, H. Vogelmann

Silver, J. D., Querel, R., Smale, D., Rhodes, S., Tully, M., Jones, N., and Schofield, R.

Smale, D., Pollard, D., and Shiona, H

R. Kivi, J.-C. Dupont, B. Ingleby, M. Fujiwara, G. Romanens, M. Hernandez, X. Calbet, M. Rosoldi, A. Giunta, T. Karppinen, M. Iwabuchi, S. Hoshino, C. von Rohden, and P. W. Thorne

M. Sommer, and C. von Rohden

Köhler, U., Egli, L., Ribnitzky, M., Steinbrecht, W., and Gröbner, J.

C. Viatte, K. Strong, E. Lutsch, D.B.A. Jones, C. Clerbaux, M. Van Damme, L. Clarisse, and P.-F. Coheur